VDB
CVE-2023-40218
CVE-2023-40218
PUBLISHED
Es bestehen mehrere Schwachstellen in Samsung Exynos Chipsätzen. Diese Fehler bestehen in den Komponenten Mobile Processor, Wearable Processor, Automotive Processor und Modem aufgrund einer unsachgemäßen Behandlung von Längenparametern, einer unsachgemäßen Behandlung von Schleifen mit unerreichbarem Ausgang und eines Integer-Überlaufs. Ein Angreifer kann diese Schwachstelle ausnutzen, um einen Denial-of-Service-Zustand zu verursachen oder weitere, nicht näher beschriebene Auswirkungen zu erzielen. Eine erfolgreiche Ausnutzung erfordert eine Benutzerinteraktion.
EPSS 0.01% · 1.5th percentile
Risk Scores
EPSS Score
0.01%
1.5th percentile
Affected Products
| Vendor | Product | Versions |
|---|---|---|
| Samsung | Samsung Exynos |
Exploit Intelligence
Timeline
- Aug 21, 2023 CVE Published
- Sep 13, 2023 EPSS Score
- Oct 15, 2023 EPSS Score
- Nov 17, 2023 EPSS Score
- Dec 19, 2023 EPSS Score
- Jan 21, 2024 EPSS Score
- Feb 22, 2024 EPSS Score
- Mar 25, 2024 EPSS Score
- Apr 27, 2024 EPSS Score
- May 29, 2024 EPSS Score
- Jul 1, 2024 EPSS Score
- Aug 2, 2024 EPSS Score